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Phase distortion measurements for saturated MESFETs loaded with arbitrary impedance terminations

Fadhel M. Ghannouchi, François Beauregard et Guoxiang Zhao

Communication écrite (1994)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/43074/
Nom de la conférence: IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1994)
Lieu de la conférence: Hamamatsu, Japan
Date(s) de la conférence: 1994-05-10 - 1994-05-14
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/imtc.1994.352066
URL officielle: https://doi.org/10.1109/imtc.1994.352066
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:29
Citer en APA 7: Ghannouchi, F. M., Beauregard, F., & Zhao, G. (mai 1994). Phase distortion measurements for saturated MESFETs loaded with arbitrary impedance terminations [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1994), Hamamatsu, Japan. https://doi.org/10.1109/imtc.1994.352066

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