Fadhel M. Ghannouchi, François Beauregard et Guoxiang Zhao
Communication écrite (1994)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43074/ |
Nom de la conférence: | IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1994) |
Lieu de la conférence: | Hamamatsu, Japan |
Date(s) de la conférence: | 1994-05-10 - 1994-05-14 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/imtc.1994.352066 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/imtc.1994.352066 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:29 |
Citer en APA 7: | Ghannouchi, F. M., Beauregard, F., & Zhao, G. (mai 1994). Phase distortion measurements for saturated MESFETs loaded with arbitrary impedance terminations [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1994), Hamamatsu, Japan. https://doi.org/10.1109/imtc.1994.352066 |
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