Mohammad Norouzi Banis, Zhiqiang Wang, Steeve Rousselot, Yulong Liu, Yongfeng Hu, Majid Talebi-Esfandarani, Thomas Bibienne, Michel Gauthier, Ruying Li, Guoxian Liang, Mickaël Dollé, Pierre Sauriol, Tsun-Kong Sham, Xueliang Sun
Article de revue (2019)
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Titre de la revue
:
Canadian Journal of Chemical Engineering
(
vol.
97
,
no
8
)
Maison d'édition:
Wiley
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OAI:
oai:publications.polymtl.ca:41861
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:52
Citer en APA 7:
Norouzi Banis, M., Wang, Z., Rousselot, S., Liu, Y., Hu, Y., Talebi-Esfandarani, M., Bibienne, T., Gauthier, M., Li, R., Liang, G., Dollé, M., Sauriol, P., Sham, T.-K., & Sun, X. (2019). Chemical Speciation and Mapping of the Si in Si Doped LFP Ingot with Synchrotron Radiation Technique. Canadian Journal of Chemical Engineering, 97(8), 2211-2217. https://doi.org/10.1002/cjce.23430
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