Patrick Ganster, Laurent Karim Béland et Normand Mousseau
Article de revue (2012)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | Physical Review B (vol. 86, no 7) |
Maison d'édition: | American Physical Society |
DOI: | 10.1103/physrevb.86.075408 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1103/physrevb.86.075408 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:27 |
Citer en APA 7: | Ganster, P., Béland, L. K., & Mousseau, N. (2012). First stages of silicon oxidation with the activation relaxation technique. Physical Review B, 86(7), 075408 (7 pages). https://doi.org/10.1103/physrevb.86.075408 |
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