Gang Xiong, Oussama Moutanabbir
, Manfred Reiche, Ross Harder et Ian Robinson
Chapitre de livre (2018)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/40033/ |
| Éditeurs ou éditrices: | Chunhai Fan et Zhentang Zhao |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/9783527697106.ch8 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/9783527697106.ch8 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:25 |
| Citer en APA 7: | Xiong, G., Moutanabbir, O., Reiche, M., Harder, R., & Robinson, I. (2018). Investigating strain in silicon-on-insulator nanostructures by coherent X-ray diffraction. Dans Fan, C., & Zhao, Z. (édit.), Synchrotron radiation in materials science (p. 239-274). https://doi.org/10.1002/9783527697106.ch8 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
