M. Jacques, S. Bouvier, D. Denis, D. Patel, A. Samani, M. G. Saber, Fayçal Mounaïm, Jules Gauthier et D. V. Plant
Article de revue (2018)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39184/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology (vol. 8, no 6) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tcpmt.2017.2774188 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tcpmt.2017.2774188 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:34 |
| Citer en APA 7: | Jacques, M., Bouvier, S., Denis, D., Patel, D., Samani, A., Saber, M. G., Mounaïm, F., Gauthier, J., & Plant, D. V. (2018). Analysis, modeling, and mitigation of parasitic resonances in integrated metallic seal rings. IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, 8(6), 1082-1091. https://doi.org/10.1109/tcpmt.2017.2774188 |
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