M. Jacques, S. Bouvier, D. Denis, D. Patel, A. Samani, M. G. Saber, Fayçal Mounaïm, Jules Gauthier, D. V. Plant
Article de revue (2018)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology
(
vol.
8
,
no
6
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39184
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:31
Citer en APA 7:
Jacques, M., Bouvier, S., Denis, D., Patel, D., Samani, A., Saber, M. G., Mounaïm, F., Gauthier, J., & Plant, D. V. (2018). Analysis, modeling, and mitigation of parasitic resonances in integrated metallic seal rings. IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, 8(6), 1082-1091. https://doi.org/10.1109/tcpmt.2017.2774188
Statistiques
Dimensions
