A. Raveh, Ludvik Martinu, S. C. Gujrathi, Jolanta-Ewa Sapieha
, Michael R. Wertheimer
Article de revue (1992)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Surface and Coatings Technology
(
vol.
53
,
no
3
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38288
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:29
Citer en APA 7:
Raveh, A., Martinu, L., Gujrathi, S. C., Sapieha, J.-E., & Wertheimer, M. R. (1992). Structure-property relationships in dual-frequency plasma deposited hard a-C : H films. Surface and Coatings Technology, 53(3), 275-282. https://doi.org/10.1016/0257-8972%2892%2990386-o
Statistiques
Dimensions
