Ellipsometric monitoring of the refractive index evolution versus temperature for various metal oxides commonly used in interference filters

Anna Sytchkova, R. Vernhesb, Bill Baloukas, M. L. Grillia, Ludvik Martinu, A. Piegaria

Communication écrite (2016)

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ISBN:
9781943580132
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Optical Interference Coatings (OIC 2016)
Lieu de la conférence:
Tucson, AZ, United states
Date(s) de la conférence:
2016-06-19 - 2016-06-24
Maison d'édition:
Optical Society of America (OSA)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:37465
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:06
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:28
Citer en APA 7:
Sytchkova, A., Vernhesb, R., Baloukas, B., Grillia, M. L., Martinu, L., & Piegaria, A. (juin 2016). Ellipsometric monitoring of the refractive index evolution versus temperature for various metal oxides commonly used in interference filters [Communication écrite]. Optical Interference Coatings (OIC 2016), Tucson, AZ, United states. https://doi.org/10.1364/oic.2016.wc.2

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