A. Sytchkova, R. Vernhesb, B. Baloukas, M. L. Grillia, Ludvik Martinu
et A. Piegaria
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/37465/ |
| Nom de la conférence: | Optical Interference Coatings (OIC 2016) |
| Lieu de la conférence: | Tucson, AZ, United states |
| Date(s) de la conférence: | 2016-06-19 - 2016-06-24 |
| Maison d'édition: | Optical Society of America (OSA) |
| DOI: | 10.1364/oic.2016.wc.2 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/oic.2016.wc.2 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:21 |
| Citer en APA 7: | Sytchkova, A., Vernhesb, R., Baloukas, B., Grillia, M. L., Martinu, L., & Piegaria, A. (juin 2016). Ellipsometric monitoring of the refractive index evolution versus temperature for various metal oxides commonly used in interference filters [Communication écrite]. Optical Interference Coatings (OIC 2016), Tucson, AZ, United states. https://doi.org/10.1364/oic.2016.wc.2 |
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