Wu Jiudong, Nicolas Émond, Ali Hendaoui, S. Delprat, Mohamed Chaker, Ke Wu
Communication écrite (2015)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781479964505
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP 2015)
Lieu de la conférence:
Suzhou, China
Date(s) de la conférence:
2015-07-01 - 2015-07-03
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:34113
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:22
Citer en APA 7:
Jiudong, W., Émond, N., Hendaoui, A., Delprat, S., Chaker, M., & Wu, K. (juillet 2015). Broadband temperature-dependent dielectric properties of polycrystalline vanadium dioxide thin films [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP 2015), Suzhou, China. https://doi.org/10.1109/imws-amp.2015.7324909
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