Ammar B. Kouki, Ahmed Khebir, Rénato Bosisio et Fadhel M. Ghannouchi
Article de revue (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33151/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 42, no 1) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/22.265531 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/22.265531 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:24 |
| Citer en APA 7: | Kouki, A. B., Khebir, A., Bosisio, R., & Ghannouchi, F. M. (1994). Novel technique for the analysis of dielectric height variations in microstrip circuits. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 42(1), 73-77. https://doi.org/10.1109/22.265531 |
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