M. K. Shi, B. Lamontagne, Amine Selmani, Ludvik Martinu, Edward Sacher, Michael R. Wertheimer et Arthur Yelon
Article de revue (1994)
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Département de génie physique Département de génie chimique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32863/ |
Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 12, no 1) |
Maison d'édition: | American Vacuum Society |
DOI: | 10.1116/1.578900 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.578900 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
Dernière modification: | 08 juin 2023 11:40 |
Citer en APA 7: | Shi, M. K., Lamontagne, B., Selmani, A., Martinu, L., Sacher, E., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1994). Metallization of Teflon PFA. I. Interactions of evaporated Cr and Al measured by X-ray photoelectron spectroscopy. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 12(1), 29-34. https://doi.org/10.1116/1.578900 |
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