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Metallization of Teflon PFA. I. Interactions of evaporated Cr and Al measured by X-ray photoelectron spectroscopy

M. K. Shi, B. Lamontagne, Amine Selmani, Ludvik Martinu, Edward Sacher, Michael R. Wertheimer et Arthur Yelon

Article de revue (1994)

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Département: Département de génie physique
Département de génie chimique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/32863/
Titre de la revue: Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 12, no 1)
Maison d'édition: American Vacuum Society
DOI: 10.1116/1.578900
URL officielle: https://doi.org/10.1116/1.578900
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 08 juin 2023 11:40
Citer en APA 7: Shi, M. K., Lamontagne, B., Selmani, A., Martinu, L., Sacher, E., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1994). Metallization of Teflon PFA. I. Interactions of evaporated Cr and Al measured by X-ray photoelectron spectroscopy. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 12(1), 29-34. https://doi.org/10.1116/1.578900

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