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Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité

Mustapha Slamani

Thèse de doctorat (1994)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
Directeurs ou directrices: Bozena Kaminska
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/32845/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:15
Citer en APA 7: Slamani, M. (1994). Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal].

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