C. S. Sundararaman, P. Milhelich, Rémo A. Masut
, John F. Currie
Article de revue (1994)
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Titre de la revue
:
Applied Physics Letters
(
vol.
64
,
no
17
)
Maison d'édition:
American Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32824
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Sundararaman, C. S., Milhelich, P., Masut, R. A., & Currie, J. F. (1994). Conductance study of silicon nitride/InP capacitors with an In₂S₃ interface control layer. Applied Physics Letters, 64(17), 2279-2281. https://doi.org/10.1063/1.111643
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