Mesures de température dans les circuits intégrés sur silicium par spectroscopie raman

Jean-François Bisson

Mémoire de maîtrise (1995)

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18 avr. 2023 15:24
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14 oct. 2026 13:20
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Bisson, J.-F. (1995). Mesures de température dans les circuits intégrés sur silicium par spectroscopie raman [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal].

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