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Mesures de température dans les circuits intégrés sur silicium par spectroscopie raman

Jean-François Bisson

Master's thesis (1995)

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Department: Department of Engineering Physics
Academic/Research Directors: Michel Meunier and Michel Normandin
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/32554/
Institution: École Polytechnique de Montréal
Date Deposited: 18 Apr 2023 15:24
Last Modified: 18 Apr 2023 15:24
Cite in APA 7: Bisson, J.-F. (1995). Mesures de température dans les circuits intégrés sur silicium par spectroscopie raman [Master's thesis, École Polytechnique de Montréal].

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