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Mesures de température dans les circuits intégrés sur silicium par spectroscopie raman

Jean-François Bisson

Mémoire de maîtrise (1995)

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Département: Département de génie physique
Directeurs ou directrices: Michel Meunier et Michel Normandin
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/32554/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:14
Citer en APA 7: Bisson, J.-F. (1995). Mesures de température dans les circuits intégrés sur silicium par spectroscopie raman [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal].

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