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GaAs FET's gate current behavior and its effects on RF performance and reliability in SSPA's

Nicolas Constantin et Fadhel M. Ghannouchi

Article de revue (1995)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/32419/
Titre de la revue: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 43, no 12, pt 2)
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/22.475656
URL officielle: https://doi.org/10.1109/22.475656
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:22
Citer en APA 7: Constantin, N., & Ghannouchi, F. M. (1995). GaAs FET's gate current behavior and its effects on RF performance and reliability in SSPA's. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 43(12, pt 2), 2918-2925. https://doi.org/10.1109/22.475656

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