Fadhel M. Ghannouchi, F. Beauregard, R. Hajji et A. Brodeur
Article de revue (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32250/ |
| Titre de la revue: | Microwave and Optical Technology Letters (vol. 10, no 4) |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/mop.4650100408 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/mop.4650100408 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:14 |
| Citer en APA 7: | Ghannouchi, F. M., Beauregard, F., Hajji, R., & Brodeur, A. (1995). De-embedding technique for reflection-based S-parameter measurements of HMICs and MMICs. Microwave and Optical Technology Letters, 10(4), 218-222. https://doi.org/10.1002/mop.4650100408 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
