De-embedding technique for reflection-based S-parameter measurements of HMICs and MMICs

Fadhel M. Ghannouchi, F. Beauregard, R. Hajji, A. Brodeur

Article de revue (1995)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
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Titre de la revue :
Microwave and Optical Technology Letters ( vol. 10 , no 4 )
Maison d'édition:
Wiley
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32250
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Ghannouchi, F. M., Beauregard, F., Hajji, R., & Brodeur, A. (1995). De-embedding technique for reflection-based S-parameter measurements of HMICs and MMICs. Microwave and Optical Technology Letters, 10(4), 218-222. https://doi.org/10.1002/mop.4650100408

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