Fadhel M. Ghannouchi, Guoxiang Zhao et François Beauregard
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32248/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 43, no 7, pt. 1) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/22.392918 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/22.392918 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:22 |
| Citer en APA 7: | Ghannouchi, F. M., Zhao, G., & Beauregard, F. (1995). Simultaneous AM-AM/AM-PM distortion measurements of microwave transistors using active load-pull and six-port techniques. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 43(7, pt. 1), 1584-1588. https://doi.org/10.1109/22.392918 |
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