Jean-Jacques Laurin
, Safwat G. Zaky et Keith G. Balmain
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32038/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility (vol. 37, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/15.477337 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/15.477337 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:22 |
| Citer en APA 7: | Laurin, J.-J., Zaky, S. G., & Balmain, K. G. (1995). On the prediction of digital circuit susceptibility to radiated EMI. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 37(4), 528-535. https://doi.org/10.1109/15.477337 |
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