On the prediction of digital circuit susceptibility to radiated EMI

Jean-Jacques Laurin, Safwat G. Zaky, Keith G. Balmain

Article de revue (1995)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département:
Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/32038/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility ( vol. 37 , no 4 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/15.477337
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/15.477337
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32038
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Laurin, J.-J., Zaky, S. G., & Balmain, K. G. (1995). On the prediction of digital circuit susceptibility to radiated EMI. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 37(4), 528-535. https://doi.org/10.1109/15.477337

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