Hugues Mercier et Jean-Jacques Laurin
Communication écrite (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31914/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility |
| Lieu de la conférence: | Atlanta, GA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1995-08-14 - 1995-08-18 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/isemc.1995.523519 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/isemc.1995.523519 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:22 |
| Citer en APA 7: | Mercier, H., & Laurin, J.-J. (août 1995). Free-space reflectometer for surface impedance measurement of materials in the Ku-band [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Atlanta, GA, USA. https://doi.org/10.1109/isemc.1995.523519 |
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