Hugues Mercier, Jean-Jacques Laurin
Communication écrite (1995)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Lieu de la conférence:
Atlanta, GA, USA
Date(s) de la conférence:
1995-08-14 - 1995-08-18
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31914
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Mercier, H., & Laurin, J.-J. (août 1995). Free-space reflectometer for surface impedance measurement of materials in the Ku-band [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Atlanta, GA, USA. https://doi.org/10.1109/isemc.1995.523519
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