M. K. Shi, Ludvik Martinu
, Edward Sacher, Amine Selmani, Michael R. Wertheimer, Arthur Yelon
Article de revue (1995)
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Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Surface and Interface Analysis
(
vol.
23
,
no
2
)
Maison d'édition:
Wiley
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31730
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Shi, M. K., Martinu, L., Sacher, E., Selmani, A., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1995). Angle-resolved XPS study of plasma-treated teflon PFA surfaces. Surface and Interface Analysis, 23(2), 99-104. https://doi.org/10.1002/sia.740230209
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