M. K. Shi, Ludvik Martinu
, Edward Sacher, Amine Selmani, Michael R. Wertheimer et Arthur Yelon
Article de revue (1995)
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| Département: |
Département de génie physique Département de génie chimique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31730/ |
| Titre de la revue: | Surface and Interface Analysis (vol. 23, no 2) |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/sia.740230209 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/sia.740230209 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Shi, M. K., Martinu, L., Sacher, E., Selmani, A., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1995). Angle-resolved XPS study of plasma-treated teflon PFA surfaces. Surface and Interface Analysis, 23(2), 99-104. https://doi.org/10.1002/sia.740230209 |
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