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Angle-resolved XPS study of plasma-treated teflon PFA surfaces

M. K. Shi, Ludvik Martinu, Edward Sacher, Amine Selmani, Michael R. Wertheimer et Arthur Yelon

Article de revue (1995)

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Département: Département de génie physique
Département de génie chimique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31730/
Titre de la revue: Surface and Interface Analysis (vol. 23, no 2)
Maison d'édition: Wiley
DOI: 10.1002/sia.740230209
URL officielle: https://doi.org/10.1002/sia.740230209
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:21
Citer en APA 7: Shi, M. K., Martinu, L., Sacher, E., Selmani, A., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1995). Angle-resolved XPS study of plasma-treated teflon PFA surfaces. Surface and Interface Analysis, 23(2), 99-104. https://doi.org/10.1002/sia.740230209

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