C. Vailles, R. Malewski, Xuan-Dai Do, J. Aubin
Article de revue (1995)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Power Delivery
(
vol.
10
,
no
4
)
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31656
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Vailles, C., Malewski, R., Do, X.-D., & Aubin, J. (1995). Measurements of dielectric stress in ehv power transformer insulation. IEEE Transactions on Power Delivery, 10(4), 1757-1763. https://doi.org/10.1109/61.473383
Statistiques
Dimensions
