C. Vailles, R. Malewski, Xuan-Dai Do et J. Aubin
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31656/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Power Delivery (vol. 10, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/61.473383 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/61.473383 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Vailles, C., Malewski, R., Do, X.-D., & Aubin, J. (1995). Measurements of dielectric stress in ehv power transformer insulation. IEEE Transactions on Power Delivery, 10(4), 1757-1763. https://doi.org/10.1109/61.473383 |
|---|---|
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