S. C. Gujrathi, D. Poitras, Jolanta-Ewa Sapieha
et Ludvik Martinu
Article de revue (1996)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31272/ |
| Titre de la revue: | Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions With Materials and Atoms (vol. 118, no 1-4) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/0168-583x(95)01117-x |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/0168-583x%2895%2901117-x |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Gujrathi, S. C., Poitras, D., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (1996). ERD-TOF characterization of silicon-compound multilayer and graded-index optical coatings. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions With Materials and Atoms, 118(1-4), 560-565. https://doi.org/10.1016/0168-583x%2895%2901117-x |
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