Gregory Garth Kennedy, J. St-Pierre, J. Guo, F. Gitzhofer, M. Boulos
Communication écrite (1995)
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Nom de la conférence:
3rd International Workshop on Short-Time Activation Analysis, High-Rate Gamma Spectroscopy, and X-Ray Techniques
Lieu de la conférence:
Vienna, Austria
Date(s) de la conférence:
1995-04-03
Titre de la revue
:
Journal of trace and microprobe techniques
(
vol.
14
,
no
1
)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31182
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Kennedy, G. G., St-Pierre, J., Guo, J., Gitzhofer, F., & Boulos, M. (avril 1995). Boron determination in SiC using two INAA techniques [Communication écrite]. 3rd International Workshop on Short-Time Activation Analysis, High-Rate Gamma Spectroscopy, and X-Ray Techniques, Vienna, Austria. Publié dans Journal of trace and microprobe techniques, 14(1).
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