Gregory Garth Kennedy, J. St-Pierre, J. Guo, F. Gitzhofer et M. Boulos
Communication écrite (1995)
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| Département: | Département de génie mécanique |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31182/ |
| Nom de la conférence: | 3rd International Workshop on Short-Time Activation Analysis, High-Rate Gamma Spectroscopy, and X-Ray Techniques |
| Lieu de la conférence: | Vienna, Austria |
| Date(s) de la conférence: | 1995-04-03 |
| Titre de la revue: | Journal of trace and microprobe techniques (vol. 14, no 1) |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Kennedy, G. G., St-Pierre, J., Guo, J., Gitzhofer, F., & Boulos, M. (avril 1995). Boron determination in SiC using two INAA techniques [Communication écrite]. 3rd International Workshop on Short-Time Activation Analysis, High-Rate Gamma Spectroscopy, and X-Ray Techniques, Vienna, Austria. Publié dans Journal of trace and microprobe techniques, 14(1). |
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