Characterization of interface states in thin epitaxial film In₀.₇₅Ga₀.₂₅P/Ag diodes

A. Singh, Rémo A. Masut, A. Bensaada

Communication écrite (1994)

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Nom de la conférence:
Surfaces, vacuum and their applications
Date(s) de la conférence:
1994-09-19 - 1994-09-23
Titre de la revue :
AIP Conference Proceedings ( vol. 378 , no 1 )
Maison d'édition:
American Institute of Physics
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30867
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Singh, A., Masut, R. A., & Bensaada, A. (septembre 1994). Characterization of interface states in thin epitaxial film In₀.₇₅Ga₀.₂₅P/Ag diodes [Communication écrite]. Surfaces, vacuum and their applications. Publié dans AIP Conference Proceedings, 378(1). https://doi.org/10.1063/1.51129

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