<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Characterization of interface states in thin epitaxial film In₀.₇₅Ga₀.₂₅P/Ag diodes

A. Singh, Rémo A. Masut et A. Bensaada

Communication écrite (1994)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/30867/
Nom de la conférence: Surfaces, vacuum and their applications
Date(s) de la conférence: 1994-09-19 - 1994-09-23
Titre de la revue: AIP Conference Proceedings (vol. 378, no 1)
Maison d'édition: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.51129
URL officielle: https://doi.org/10.1063/1.51129
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:20
Citer en APA 7: Singh, A., Masut, R. A., & Bensaada, A. (septembre 1994). Characterization of interface states in thin epitaxial film In₀.₇₅Ga₀.₂₅P/Ag diodes [Communication écrite]. Surfaces, vacuum and their applications. Publié dans AIP Conference Proceedings, 378(1). https://doi.org/10.1063/1.51129

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document