P. Cova, A. Singh et Rémo A. Masut
Article de revue (1997)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30558/ |
Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 82, no 10) |
Maison d'édition: | American Institute of Physics |
DOI: | 10.1063/1.366386 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.366386 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
Citer en APA 7: | Cova, P., Singh, A., & Masut, R. A. (1997). A self-consistent technique for the analysis of the temperature dependence of current-voltage and capacitance-voltage characteristics of a tunnel metal-insulator-semiconductor structure. Journal of Applied Physics, 82(10), 5217-5226. https://doi.org/10.1063/1.366386 |
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