Characterization of 25-75 nm phases found at the peripyhery of multiphase inclusions: techniques comparison and selection

Carl Blais, Gilles L'Espérance, É. Baril

Article de revue (1998)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue :
Journal of Microscopy ( vol. 189 , no 3 )
Maison d'édition:
Blackwell Publishing
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29837
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:07
Citer en APA 7:
Blais, C., L'Espérance, G., & Baril, É. (1998). Characterization of 25-75 nm phases found at the peripyhery of multiphase inclusions: techniques comparison and selection. Journal of Microscopy, 189(3), 249-262. https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document