Carl Blais, Gilles L'Espérance et E. Baril
Article de revue (1998)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
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Département: | Département de génie physique |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29837/ |
Titre de la revue: | Journal of Microscopy (vol. 189, no 3) |
Maison d'édition: | Blackwell Publishing |
DOI: | 10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x |
URL officielle: | https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:18 |
Citer en APA 7: | Blais, C., L'Espérance, G., & Baril, E. (1998). Characterization of 25-75 nm phases found at the peripyhery of multiphase inclusions: techniques comparison and selection. Journal of Microscopy, 189(3), 249-262. https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x |
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