Carl Blais, Gilles L'Espérance
et É. Baril
Article de revue (1998)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| Centre de recherche: | (CM)² - Centre de caractérisation microscopique des matériaux |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29837/ |
| Titre de la revue: | Journal of Microscopy (vol. 189, no 3) |
| Maison d'édition: | Blackwell Publishing |
| DOI: | 10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:11 |
| Citer en APA 7: | Blais, C., L'Espérance, G., & Baril, É. (1998). Characterization of 25-75 nm phases found at the peripyhery of multiphase inclusions: techniques comparison and selection. Journal of Microscopy, 189(3), 249-262. https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1998.00303.x |
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