A. S. da Silva Sobrinho, A. Bergeron, N. Schuhler, Jolanta-Ewa Sapieha
, Ludvik Martinu, Michael R. Wertheimer, M. Andrews
Communication écrite (1998)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
41st Annual Technical Conference
Lieu de la conférence:
Boston, MA, USA
Date(s) de la conférence:
1998-04-18 - 1998-04-23
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29748
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:07
Citer en APA 7:
da Silva Sobrinho, A. S., Bergeron, A., Schuhler, N., Sapieha, J.-E., Martinu, L., Wertheimer, M. R., & Andrews, M. (avril 1998). Interphase characterization of PECVD silicon-compound layers on PET [Communication écrite]. 41st Annual Technical Conference, Boston, MA, USA.
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