A. S. da Silva Sobrinho, A. Bergeron, N. Schuhler, Jolanta-Ewa Sapieha
, Ludvik Martinu, Michael R. Wertheimer et M. Andrews
Communication écrite (1998)
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29748/ |
| Nom de la conférence: | 41st Annual Technical Conference |
| Lieu de la conférence: | Boston, MA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1998-04-18 - 1998-04-23 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:18 |
| Citer en APA 7: | da Silva Sobrinho, A. S., Bergeron, A., Schuhler, N., Sapieha, J.-E., Martinu, L., Wertheimer, M. R., & Andrews, M. (avril 1998). Interphase characterization of PECVD silicon-compound layers on PET [Communication écrite]. 41st Annual Technical Conference, Boston, MA, USA. |
|---|---|
Statistiques
Aucune statistique n'est disponible.
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
