Simple Method for Determining Slowly Varying Refractive-Index Profiles From in Situ Spectrophotometric Measurements

Daniel Poitras, Ludvik Martinu

Article de revue (1998)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue :
Applied Optics ( vol. 37 , no 19 )
Maison d'édition:
Optical Society of America
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29409
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:06
Citer en APA 7:
Poitras, D., & Martinu, L. (1998). Simple Method for Determining Slowly Varying Refractive-Index Profiles From in Situ Spectrophotometric Measurements. Applied Optics, 37(19), 4160-4167. https://doi.org/10.1364/ao.37.004160

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