Simple Method for Determining Slowly Varying Refractive-Index Profiles From in Situ Spectrophotometric Measurements

D. Poitras et Ludvik Martinu

Article de revue (1998)

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Renseignements supplémentaires:	Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/29409/
Titre de la revue:	Applied Optics (vol. 37, no 19)
Maison d'édition:	Optical Society of America
DOI:	10.1364/ao.37.004160
URL officielle:	https://doi.org/10.1364/ao.37.004160
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:18

Citer en APA 7:	Poitras, D., & Martinu, L. (1998). Simple Method for Determining Slowly Varying Refractive-Index Profiles From in Situ Spectrophotometric Measurements. Applied Optics, 37(19), 4160-4167. https://doi.org/10.1364/ao.37.004160
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