Daniel Poitras et Ludvik Martinu
Article de revue (1998)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29409/ |
| Titre de la revue: | Applied Optics (vol. 37, no 19) |
| Maison d'édition: | Optical Society of America |
| DOI: | 10.1364/ao.37.004160 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/ao.37.004160 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:10 |
| Citer en APA 7: | Poitras, D., & Martinu, L. (1998). Simple Method for Determining Slowly Varying Refractive-Index Profiles From in Situ Spectrophotometric Measurements. Applied Optics, 37(19), 4160-4167. https://doi.org/10.1364/ao.37.004160 |
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