Félix Beaudoin, Martine Simard-Normandin et Michel Meunier
Communication écrite (1997)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
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| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29137/ |
| Nom de la conférence: | Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods |
| Lieu de la conférence: | Santa Clara, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1997-06-02 - 1997-06-03 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:17 |
| Citer en APA 7: | Beaudoin, F., Simard-Normandin, M., & Meunier, M. (juin 1997). Metallic contamination from wafer handling [Communication écrite]. Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, Santa Clara, CA, USA. |
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