Félix Beaudoin, Martine Simard-Normandin et Michel Meunier
Communication écrite (1997)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29137/ |
| Nom de la conférence: | Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods |
| Lieu de la conférence: | Santa Clara, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1997-06-02 - 1997-06-03 |
| Maison d'édition: | ASME |
| DOI: | 10.1520/stp15707s |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1520/stp15707s |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:19 |
| Citer en APA 7: | Beaudoin, F., Simard-Normandin, M., & Meunier, M. (juin 1997). Metallic contamination from wafer handling [Communication écrite]. Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, Santa Clara, CA, USA. https://doi.org/10.1520/stp15707s |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
