Shuran Sheng, Edward Sacher, Arthur Yelon
, Howard M. Branz, Denis P. Masson
Communication écrite (1999)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1999 MRS Spring Meeting - Symposium A 'Amorphous and Heterogenous Silicon Thin Films: Fundamentals to Devices'
Lieu de la conférence:
San Francisco, CA
Date(s) de la conférence:
1999-04-05 - 1999-04-09
Titre de la revue
:
Materials Research Society Symposium - Proceedings
(
vol.
557
)
Maison d'édition:
Materials Research Society
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:28598
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:05
Citer en APA 7:
Sheng, S., Sacher, E., Yelon, A., Branz, H. M., & Masson, D. P. (avril 1999). Structural changes in a-Si:H studied by X-ray photoemission spectroscopy [Communication écrite]. 1999 MRS Spring Meeting - Symposium A 'Amorphous and Heterogenous Silicon Thin Films: Fundamentals to Devices', San Francisco, CA. Publié dans Materials Research Society Symposium - Proceedings, 557. https://doi.org/10.1557/proc-557-359
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