A. Bergeron, D. Poitras et Ludvik Martinu
Article de revue (2000)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/28353/ |
| Titre de la revue: | Optical Engineering (vol. 39, no 3) |
| Maison d'édition: | SPIE - International Society for Optical Engineering |
| DOI: | 10.1117/1.602433 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1117/1.602433 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:16 |
| Citer en APA 7: | Bergeron, A., Poitras, D., & Martinu, L. (2000). Interphase in Plasma-Deposited Silicon Nitride Optical Films on Polycarbonate: in Situ Ellipsometric Characterization. Optical Engineering, 39(3), 825-831. https://doi.org/10.1117/1.602433 |
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