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Three-Dimensional Analysis of Dielectric-Loaded Waveguide Discontinuity by Edge Fem Combined With Soc Technique

R. S. Chen, D. X. Wang, L. Chang, L. Zhu et Ke Wu

Article de revue (2000)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/28278/
Titre de la revue: Microwave and Optical Technology Letters (vol. 27, no 6)
Maison d'édition: Wiley
DOI: 10.1002/1098-2760(20001220)27:6<438::aid-mop20>3.0.co;2-s
URL officielle: https://doi.org/10.1002/1098-2760%2820001220%2927%...
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:21
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:16
Citer en APA 7: Chen, R. S., Wang, D. X., Chang, L., Zhu, L., & Wu, K. (2000). Three-Dimensional Analysis of Dielectric-Loaded Waveguide Discontinuity by Edge Fem Combined With Soc Technique. Microwave and Optical Technology Letters, 27(6), 438-444. https://doi.org/10.1002/1098-2760%2820001220%2927%3a6%3c438%3a%3aaid-mop20%3e3.0.co%3b2-s

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