R. S. Chen, D. X. Wang, L. Chang, L. Zhu et Ke Wu
Article de revue (2000)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/28278/ |
Titre de la revue: | Microwave and Optical Technology Letters (vol. 27, no 6) |
Maison d'édition: | Wiley |
DOI: | 10.1002/1098-2760(20001220)27:6<438::aid-mop20>3.0.co;2-s |
URL officielle: | https://doi.org/10.1002/1098-2760%2820001220%2927%... |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:09 |
Citer en APA 7: | Chen, R. S., Wang, D. X., Chang, L., Zhu, L., & Wu, K. (2000). Three-Dimensional Analysis of Dielectric-Loaded Waveguide Discontinuity by Edge Fem Combined With Soc Technique. Microwave and Optical Technology Letters, 27(6), 438-444. https://doi.org/10.1002/1098-2760%2820001220%2927%3a6%3c438%3a%3aaid-mop20%3e3.0.co%3b2-s |
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