A. V. Kabashin, Michel Meunier
, R. Leonelli
Article de revue (2001)
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Département:
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Titre de la revue
:
Journal of Vacuum Science & Technology B: Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
(
vol.
19
,
no
6
)
Maison d'édition:
American Vacuum Society
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27310
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:03
Citer en APA 7:
Kabashin, A. V., Meunier, M., & Leonelli, R. (2001). Photoluminescence Characterization of Si-Based Nanostructured Films Produced by Pulsed Laser Ablation. Journal of Vacuum Science & Technology B: Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena, 19(6), 2217-2222. https://doi.org/10.1116/1.1420494
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