Shuran Sheng, Edward Sacher, Arthur Yelon
Communication écrite (2000)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Unité de recherche:
ISBN:
155899517X
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Amorphous and Heterogeneous Silicon Thin Films - 2000. Symposium
Lieu de la conférence:
San Francisco, CA, USA
Date(s) de la conférence:
2000-04-24 - 2000-04-28
Maison d'édition:
Materials Research Society
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27042
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:02
Citer en APA 7:
Sheng, S., Sacher, E., & Yelon, A. (avril 2000). X-ray photoemission spectroscopic study of light-induced structural changes in amorphous silicon [Communication écrite]. Amorphous and Heterogeneous Silicon Thin Films - 2000. Symposium, San Francisco, CA, USA. https://doi.org/10.1557/proc-609-a10.1
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