Shuran Sheng, Edward Sacher, Arthur Yelon
Article de revue (2001)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of Non-Crystalline Solids
(
vol.
282
,
no
2-3
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27041
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:02
Citer en APA 7:
Sheng, S., Sacher, E., & Yelon, A. (2001). Structural Changes in Amorphous Silicon Studied by X-Ray Photoemission Spectroscopy: a Phenomenon Independent of the Staebler-Wronski Effect? Journal of Non-Crystalline Solids, 282(2-3), 165-172. https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2801%2900339-8
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