S. Boumaiza et Fadhel M. Ghannouchi
Communication écrite (2002)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26815/ |
| Nom de la conférence: | IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2002) |
| Lieu de la conférence: | Seattle, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2002-01-01 - 2002-12-31 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/mwsym.2002.1012319 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/mwsym.2002.1012319 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:14 |
| Citer en APA 7: | Boumaiza, S., & Ghannouchi, F. M. (janvier 2002). An Accurate complex behavior test suitable for 3G power amplifiers characterization [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2002), Seattle, USA. https://doi.org/10.1109/mwsym.2002.1012319 |
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