Slim Boumaiza, Fadhel M. Ghannouchi
Communication écrite (2002)
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Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2002)
Lieu de la conférence:
Seattle, WA, USA
Date(s) de la conférence:
2002-06-02 - 2002-06-07
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26815
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:02
Citer en APA 7:
Boumaiza, S., & Ghannouchi, F. M. (juin 2002). An Accurate complex behavior test suitable for 3G power amplifiers characterization [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2002), Seattle, WA, USA. https://doi.org/10.1109/mwsym.2002.1012319
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