Article de revue (2002)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26167/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 50, no 8) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/tmtt.2002.801311 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tmtt.2002.801311 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:12 |
| Citer en APA 7: | Zhu, L., & Wu, K. (2002). Short-Open Calibration Technique for Field Theory-Based Parameter Extraction of Lumped Elements of Planar Integrated Circuits. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 50(8), 1861-1869. https://doi.org/10.1109/tmtt.2002.801311 |
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