Article de revue (2002)
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
(
vol.
50
,
no
8
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26167
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:01
Citer en APA 7:
Zhu, L., & Wu, K. (2002). Short-Open Calibration Technique for Field Theory-Based Parameter Extraction of Lumped Elements of Planar Integrated Circuits. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 50(8), 1861-1869. https://doi.org/10.1109/tmtt.2002.801311
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