Jean-Yves Degorce, Antoine Saucier
, Michel Meunier
Communication écrite (2002)
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Nom de la conférence:
European Materials Research Society conference on Physics and Chemistry of Advanced Laser Materials Processing
Lieu de la conférence:
Strasbourg, France
Date(s) de la conférence:
2002-06-18 - 2002-06-21
Titre de la revue
:
Applied Surface Science
(
vol.
208-209
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25971
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:01
Citer en APA 7:
Degorce, J.-Y., Saucier, A., & Meunier, M. (juin 2002). A simple analytical method for the characterization of the melt region of a semiconductor under focused laser irradiation [Communication écrite]. European Materials Research Society conference on Physics and Chemistry of Advanced Laser Materials Processing, Strasbourg, France. Publié dans Applied Surface Science, 208-209. https://doi.org/10.1016/s0169-4332%2802%2901350-8
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