K. N. Piyakis, D.-Q. Yang, Edward Sacher
Article de revue (2003)
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Département:
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Titre de la revue
:
Surface Science
(
vol.
536
,
no
1-3
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25582
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:00
Citer en APA 7:
Piyakis, K. N., Yang, D.-Q., & Sacher, E. (2003). The applicability of angle-resolved XPS to the characterization of clusters on surfaces. Surface Science, 536(1-3), 139-144. https://doi.org/10.1016/s0039-6028%2803%2900571-5
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