K. N. Piyakis, D.-Q. Yang et Edward Sacher
Article de revue (2003)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25582/ |
| Titre de la revue: | Surface Science (vol. 536, no 1-3) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0039-6028(03)00571-5 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0039-6028%2803%2900571-5 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:11 |
| Citer en APA 7: | Piyakis, K. N., Yang, D.-Q., & Sacher, E. (2003). The applicability of angle-resolved XPS to the characterization of clusters on surfaces. Surface Science, 536(1-3), 139-144. https://doi.org/10.1016/s0039-6028%2803%2900571-5 |
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