Article de revue (2003)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25392/ |
| Titre de la revue: | Applied Surface Science (vol. 210, no 3-4) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0169-4332(03)00104-1 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0169-4332%2803%2900104-1 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:05 |
| Citer en APA 7: | Yang, D.-Q., & Sacher, E. (2003). Local surface cleaning and cluster assembly using contact mode atomic force microscopy. Applied Surface Science, 210(3-4), 158-164. https://doi.org/10.1016/s0169-4332%2803%2900104-1 |
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