Communication écrite (2004)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25080/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2004) |
| Lieu de la conférence: | Vancouver, BC, Canada |
| Date(s) de la conférence: | 2004-05-23 - 2004-05-26 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iscas.2004.1328848 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.2004.1328848 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:05 |
| Citer en APA 7: | Duval, O., & Savaria, Y. (mai 2004). An on-chip delay measurements module for nanostructures characterization [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2004), Vancouver, BC, Canada. https://doi.org/10.1109/iscas.2004.1328848 |
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