Taijun Liu, Slim Boumaiza, Fadhel M. Ghannouchi
Article de revue (2005)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
(
vol.
53
,
no
11
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:23922
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:57
Citer en APA 7:
Liu, T., Boumaiza, S., & Ghannouchi, F. M. (2005). Deembedding Static Nonlinearities and Accurately Identifying and Modeling Memory Effects in Wide-Band Rf Transmitters. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 53(11), 3578-3587. https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.857105
Statistiques
Dimensions
